熱缺陷
(晶格位置缺陷)
只要晶體的溫度高于絕對零度,原子就要吸收熱能而運動,但由于固體質點是牢固結合在一起的,或者說晶體中每一個質點的運動必然受到周圍質點結合力的限制而只能以質點的平衡位置為中心作微小運動,振動的幅度隨溫度升高而增大,溫度越高,平均熱能越大,而相應一定溫度的熱能是指原子的平均動能,當某些質點大于平均動能就要離開平衡位置,在原來的位置上留下一個空位而形成缺陷,實際上在任何溫度下總有少數質點擺脫周圍離子的束縛而離開原來的平衡位置,這種由于熱運動而產生的點缺陷——熱缺陷。
熱缺陷兩種基本形式:
a-弗侖克爾缺陷,
b-肖特基缺陷
(1)弗侖克爾缺陷
具有足夠大能量的原子(離子)離開平衡位置后,擠入晶格間隙中,形成間隙原子離子),在原來位置上留下空位。
特點:空位與間隙粒子成對出現,數量相等,晶體體積不發(fā)生變化。
在晶體中弗侖克爾缺陷的數目多少與晶體結構有很大關系,格點位質點要進入間隙位,間隙必須要足夠大,如螢石()型結構的物質空隙較大,易形成,而型結構不易形成。總的來說,離子晶體,共價晶體形成該缺陷困難。 表面層原子獲得較大能量,離開原來格點位跑到表面外新的格點位,原來位置形成空位這樣晶格深處的原子就依次填入,結果表面上的空位逐漸轉移到內部去。
特點:體積增大,對離子晶體、正負離子空位成對出現,數量相等。結構致密易形成肖特基缺陷。
晶體熱缺陷的存在對晶體性質及一系列物理化學過程,導電、擴散、固相反應、燒結等產生重要影響,適當提高溫度,可提高缺陷濃度,有利于擴散,燒結作用,外加少量填加劑也可提高熱缺陷濃度,有些過程需要最大限度避免缺陷產生,如單晶生產,要非常快冷卻。 3. 組成缺陷
主要是一種雜質缺陷,在原晶體結構中進入了雜質原子,它與固有原子性質不同,破壞了原子排列的周期性,雜質原子在晶體中占據兩種位置(1)填隙位(2)格點位
4. 電荷缺陷(Charge defect)
從物理學中固體的能帶理論來看,非金屬固體具有價帶,禁帶和導帶,當在OR時,導帶全部完善,價帶全部被電子填滿,由于熱能作用或其它能量傳遞過程,價帶中電子得到一能量Eg,而被激發(fā)入導帶,這時在導帶中存在一個電子,在價帶留一孔穴,孔穴也可以導電,這樣雖末破壞原子排列的周期性,在由于孔穴和電子分別帶有正負電荷,在它們附近形成一個附加電場,引起周期勢場畸變,造成晶體不完整性稱電荷缺陷。
例:純半導體禁帶較寬,價電帶電子很難越過禁帶進入導帶,導電率很低,為改善導電性,可采用摻加雜質的辦法,如在半導體硅中摻入P和B,摻入一個P,則與周圍Si原子形成四對共價鍵,并導出一個電子,叫施主型雜質,這個多余電子處于半束縛狀態(tài),只須填加很少能量,就能躍遷到導帶中,它的能量狀態(tài)是在禁帶上部靠近導帶下部的一個附加能級上,叫施主能級,叫n型半導體。當摻入一個B,少一個電子,不得不向其它Si原子奪取一個電子補充,這就在Si原子中造成空穴,叫受主型雜質,這個空穴也僅增加一點能量就能把價帶中電子吸過來,它的能量狀態(tài)在禁帶下部靠近價帶頂部一個附加能級,叫受主能級,叫P型半導體,自由電子,空穴都是晶體一種缺 點缺陷在實踐中有重要意義:燒成燒結,固相反應,擴散,對半導體,電絕緣用陶瓷有重要意義,使晶體著色等。
線缺陷
實際晶體在結晶時,受到雜質,溫度變化或振動產生的應力作用或晶體由于受到打擊,切割等機械應力作用,使晶體內部質點排列變形,原子行列間相互滑移,不再符合理想晶體的有序排列,形成線狀缺陷。 位錯直觀定義:晶體中已滑移面與未滑移面的邊界線。
這種線缺陷又稱位錯,注意:位錯不是一條幾何線,而是一個有一定寬度的管道,位錯區(qū)域質點排列嚴重畸變,有時造成晶體面網發(fā)生錯動。對晶體強度有很大影響。